价格面议
本发明公开了一种基于自动测试系统的同步测试装置，包括驱动单元和比较单元，驱动单元设有与自动测试系统驱动信号端和被测集成电路时钟相连的信号输入端，驱动单元设有与被测集成电路信号输入端相连的信号输出端；比较单元设有与自动测试系统时钟和被测集成电路信号输出端相连的输入端，比较单元设有与自动测试系统相连的信号输出端。本发明还公开了一种基于自动测试系统的同步测试方法，步骤如下：1、驱动单元将驱动信号发送给被测集成电路；2、比较单元将响应信号发送给自动测试系统；3、自动测试系统将响应信号与其时钟比较。本发明能够解决自动测试系统与被测集成电路之间的时钟匹配和同步测试的问题，可以广泛应用于集成电路测试领域。
