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一种QDR SRAM应用验证板及验证方法

一种QDR SRAM应用验证板及验证方法

专利号: CN202010247011.5
专利类别: 发明专利
价格:
0.00
行业分类: G物理
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格面议


本发明属于集成电路应用验证和应用开发领域,公开了一种QDR SRAM应用验证板及验证方法,包括PCB板,在PCB板上设置抗辐照处理器、FPGA、供电模块、时钟模块和复位模块,抗辐照处理器设计了第一QDR SRAM控制器,FPGA上设计了第二QDR SRAM控制器,第一QDR SRAM控制器和第二QDR SRAM控制器用于连接待验证QDR SRAM,抗辐照处理器和FPGA的编译调试接口用于待验证QDR SRAM的配置和读/写。解决了现有QDR SRAM应用验证板仅可以验证QDR SRAM与特定单一处理器的匹配性以及不能进行宇航用QDR SRAM抗辐照性能的应用验证的缺点,本发明不仅可以验证QDR SRAM与特定种类处理器的匹配性,可以验证QDR SRAM与不同种类控制器之间的匹配性和兼容性,可以进行宇航用QDR SRAM的应用验证,提高了应用验证的覆盖性。

专利转让流程2.jpg



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